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개념
- 임베디드 시스템 개발 시에 사용되는 디버깅 장비
- IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
JTAG 유래
- 1980년대 Joint European Test Access Group에서 다층기판 보드(Multi-Printed Broad)의 안정적인 테스트 방식을 대체하고 비용절감을 위해 Boundary-Scan 개념 도입으로 탄생
- 대중적으로 JTAG 대신 Boundary-Scan 단어 많이 사용
JTAG 구성
- JTAG 인터페이스는 5개(또는 4개)의 핀으로 구성
- TDI(Test Data In), TDO(Test Data Out), TCK(Test Clock), TMS(Test Mode Select), TRST(Test Reset)
- 이 중, TRST은 추가적인 기능으로 일부 JTAG에는 포함되어 있지 않음
JTAG 동작
- JTAG은 Chip 내부에 Boundary Cell을 만들어 외부의 pin과 일대일로 연결
- Process의 상태에 상관없이 Boundary Cell을 통해 Process의 상태, register 등을 읽고 수정가능
- 임베디드 시스템의 NAND/NOR Flash(주로 ROM이나 Code 영역을 포함하는 Flash Memory 등)에 내용을 기록하거나 읽을 수 있어, boot loader를 다운로드 하거나, 펌웨어를 올릴 수 있음